Интеллектуально - Творческий Потенциал России
Национальная Образовательная Программа
Номинация | Работа | Баллы | Результат |
---|---|---|---|
Основы инженерных наук (экспертная оценка) | Разработка стенда для диагностики микросхемы ШИМ-контроллеров импульсных блоков питания | лауреат I степени | |
Мнение эксперта: Современный уровень развития компьютерной техники и радиоэлектронной аппаратуры требует совершенных диагностических решений, связанных с поиском и устранением неисправностей. Цель рассматриваемой работы заключается в «разработке стенда для диагностики микросхемы ШИМ-контроллеров импульсных блоков питания». По-видимому, это самое больное место в современной электронной аппаратуре. Очевидно, это действительно так, но в работе имеется логическая неувязка в том, что представлено «описание действующего стенда для диагностики микросхем ШИМ-контроллера» вместо особенностей его конструкторской разработки. Приведены описания различных микросхем ШИМ-контроллеров, для проверки которых нужен рассматриваемый стенд. Представлен порядок работы со стендом, приведены осциллограммы, иллюстрирующие работу стенда. Работа заслуживает оценки Лауреата заочного конкурса и Диплома 1-й степени, выступления с докладом на конференции «Научный потенциал» | |||
Рекомендация к участию: Научный потенциал - очная конференция | |||
Форма участия: доклад |